Новий мікроскоп долає дифракційну межу роздільної здатності - Історія редагувань

Kateryna Lystvan в 17:27, 17 січня 2015

2015-01-17T17:27:26Z

WikiSysop в 16:11, 17 січня 2015

2015-01-17T16:11:56Z

WikiSysop: Нова сторінка: Технологія, запропонована дослідниками з Національного інституту стандартів і технологій (Na...

2015-01-17T16:10:24Z

Нова сторінка: Технологія, запропонована дослідниками з Національного інституту стандартів і технологій (Na...

Нова сторінка

Технологія, запропонована дослідниками з Національного інституту стандартів і технологій (National Institute of Standards and Technology, NIST) США, поєднує кращі якості оптичної і скануючої електронної мікроскопії, дозволяючи візуалізувати деталі поверхні і приповерхневого шару з характерними розмірами до 10 нм.

Як пояснюється в журналі AIP Advances, новий метод використовує промінь електронів для збудження особливим чином створеного масиву квантових точок, змушуючи останні випромінювати видиме світло малої енергії дуже близько до досліджуваної поверхні. Розсіяні від неї фотони реєструються розташованим поблизу фотодетектором. Коректуючи локальні ефекти близького поля з урахуванням позиції скануючого променя можна отримувати зображення з роздільною здатністю нанометрового рівня.

При цьому усуваються основні перешкоди, що стримували вдосконалення технік наномікроскопії: дифракційну межу роздільної здатності оптичних мікроскопів (приблизно 250 нм), відносно високі енергії зондування і складні процедури підготовки зразків для електронних мікроскопів, що не підходять для крихких матеріалів і, наприклад, біологічних тканин.

Ідея методу народилася кілька років тому, але реалізувати її представилося можливим тільки зараз, з появою технологій квантових точок, що дозволяють наносити на зразки однорідні люмінесцентні покриття досить малої товщини - близько 50 нм.

Перша демонстрація концепції полягала у відображенні природної наноструктури самого фотодетектора. Оскільки джерело випромінювання, а також приймач розташовані впритул до зразка, дифракційне обмеження тут не діє, а, отже, можна отримувати картинки набагато менших об'єктів. Дана методика, за словами її авторів, може бути застосована не тільки до гладких однорідних поверхонь, але також до біологічних, клітинних тканин, зразкам із грубою текстурою та полімерним фотоелементам сонячних батарей.

==Джерела==
* [http://ko.com.ua/novyj_mikroskop_preodolevaet_difrakcionnyj_predel_razresheniya_77766 Новый микроскоп преодолевает дифракционный предел разрешения] 14 июня 2013 г, «Компьютерное Обозрение»

[[Category:Світові новини|2014]]

← Попередня версія		Версія за 16:11, 17 січня 2015
Рядок 1:		Рядок 1:
		+	http://ko.com.ua/files/u5101/57780_web.jpg
		+
	Технологія, запропонована дослідниками з Національного інституту стандартів і технологій (National Institute of Standards and Technology, NIST) США, поєднує кращі якості оптичної і скануючої електронної мікроскопії, дозволяючи візуалізувати деталі поверхні і приповерхневого шару з характерними розмірами до 10 нм.		Технологія, запропонована дослідниками з Національного інституту стандартів і технологій (National Institute of Standards and Technology, NIST) США, поєднує кращі якості оптичної і скануючої електронної мікроскопії, дозволяючи візуалізувати деталі поверхні і приповерхневого шару з характерними розмірами до 10 нм.

@@ Рядок 7: / Рядок 7: @@
 При цьому усуваються основні перешкоди, що стримували вдосконалення технік наномікроскопії: дифракційну межу роздільної здатності оптичних мікроскопів (приблизно 250 нм), відносно високі енергії зондування і складні процедури підготовки зразків для електронних мікроскопів, що не підходять для крихких матеріалів і, наприклад, біологічних тканин.
-Ідея методу народилася кілька років тому, але реалізувати її представилося можливим тільки зараз, з появою технологій квантових точок, що дозволяють наносити на зразки однорідні люмінесцентні покриття досить малої товщини - близько 50 нм.
+Ідея методу народилася кілька років тому, але реалізувати її виявилось можливим тільки зараз, з появою технологій квантових точок, що дозволяють наносити на зразки однорідні люмінесцентні покриття досить малої товщини - близько 50 нм.
-Перша демонстрація концепції полягала у відображенні природної наноструктури самого фотодетектора. Оскільки джерело випромінювання, а також приймач розташовані впритул до зразка, дифракційне обмеження тут не діє, а, отже, можна отримувати картинки набагато менших об'єктів. Дана методика, за словами її авторів, може бути застосована не тільки до гладких однорідних поверхонь, але також до біологічних, клітинних тканин, зразкам із грубою текстурою та полімерним фотоелементам сонячних батарей.
+Перша демонстрація концепції полягала у відображенні природної наноструктури самого фотодетектора. Оскільки джерело випромінювання, а також приймач, розташовані впритул до зразка, дифракційне обмеження тут не діє, а, отже, можна отримувати картинки набагато менших об'єктів. Дана методика, за словами її авторів, може бути застосована не тільки до гладких однорідних поверхонь, але також до біологічних, клітин і тканин, до зразків із грубою текстурою та полімерних фотоелементів сонячних батарей.
 ==Джерела==